试题
试卷
试题
网站首页
帮助中心
购买服务
VIP服务
团体组卷服务
激活VIP
旗下产品
21世纪教育网
校网通
校本资源库
数字化校园
二一排课
二一书城
二一阅卷
二一在线备课
二一教育众包网
登录
注册
当前位置:
高中通用技术
/
1. 小明设计了如图所示的测试电路,用于测试二极管功能是否正常。测试时,将待测二极管连接到P1、P2端口,VD1用于指示待测二极管是否正常。请完成以下任务:
555集成电路功能表
(1) 将待测二极管的两端与P1、P2分别正向和反向连接,进行正接测试和反接测试。表示待测二极管功能正常的现象为(单选)
;
A .
正接和反接时VD1均闪烁
B .
正接时VD1闪烁,反接时不发光
(2) 测试电路中能决定VD1闪烁频率的元件有(多选)
;
A .
R1
B .
R2
C .
C1
D .
C2
(3) 小明在二极管测试电路的启发下,又设计了如图所示的比较器测试电路,图中R4=R5。当图中双刀双掷开关S切换时,将1、2端的信号或2、3端的信号分别输入到比较器进行测试。比较器功能正常的情况下,开关S切换到1、2端时出现(单选)
的现象;开关S切换到2、3端时出现(单选)
的现象;
A .VD1、VD2交替闪烁 B .VD1不闪烁、VD2闪烁
C .VD1、VD2同步闪烁 D .VD1闪烁、VD2不闪烁
(4) 小明想用(3)中已测功能正常的IC1构成电路,实现原有电路的测试功能。请在虚线框中连接给定的元器件,将电路补充完整。
使用过本题的试卷
浙江省普通高校招生2023年6月通用技术选考试卷